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Vayo participated in tech. conference of 5th Institute of MIIT

2018-05-18

(Sorry, only Chinese available!)

5.17日我司在电子五所举办的技术交流会上进行了关于“DFM工艺评审在提升电子基板和质量和可靠性中的重要作用”的演讲。

在本次交流会中,我司重点阐述了DFM评审对质量和可靠性的影响。通过DFM仿真模拟和上千条规则,可以追溯到工艺设计的正确性,而原材料的可靠性问题也可以通过历史数据依据在DFM中予以排查。现场专家听后对DFM评审的重要性一目了然。

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