支持各种CAD/Gerber数据源

Test Expert能够支持各种CAD数据源,如Cadence Allegro/OrCAD, Mentor, PowerPCB, Altium/Protel, Zuken, ODB++, GenCAD, Accel, Unidat等。
如果没有CAD数据源,您也可以利用VayoPro软件(独立模块)转换Gerber进行分析。

 
 
 
 

测试选针优化

丰富灵活、直观明晰的选针设置及行业最优的测试优化算法,保证了最佳的测试选针结果。您不但可以详细设定规则细节(大小、距离、种类、数量、优先级、强制位置等),还可以设置不同的多个选针规则系列,同时生成不同的结果用于比较差异。

 
 
 
 

交互结果查询

在浏览结果时,您不但可以看到不可测原因归类,还可以互动切换到PCB视图位置,更直观了解情况,快速制定调整方案。

测试验证及可测率优化提升

有时用于PCB制作的Gerber会与PCB CAD不一致,导致测试点被阻焊层覆盖。Test Expert支持导入额外的Mask层Gerber,验证下针位置接触性,对于被覆盖的测试位置可以重新定位。另外,Test Expert独有的Net Link功能可以帮您快速发现欧姆电阻、保险丝、开关等”连通”的网络,优化合并网络,从而提升测试网络覆盖率/可测率;或者保持同意测试覆盖率的前提下,减少测试用针,降低夹具成本。

行业内容最丰富的DFT/testability报告

Test Expert可测试性报告包含丰富的内容:测试覆盖率百分比、测试网络详细报告、未测试网络详细报告、元器件报告、引脚下针覆盖报告、并联分析报告等;而且可以输出为不同文件格式:文本、PDF、Excel及Html。

ICT/MDA程序输出、测试夹具制作

强大的夹具设计功能,可以让您设计出最优化的夹具,输出各种夹具钻孔绕线等数据文档;同时可以生成各种MDA/ICT/ATE精细测试程序,支持的测试设备有Keysight/Agilent, Teradyne/GenRad, Spea, TRI, Checksum, MTS, JET, Hioki, Areaflex/IFR, SRC, …

智能飞针测试程序制作

Test Expert输出飞针测试程序时,可以产生非常丰富的测试步骤,减少调整时间。同时您也可以批量调整参数如测试针偏移,自动产生open-check sensor位置数据等,使得输出的测试步骤更精细。无论您的飞针测试设备是TAKAYA, SPEA, HIOKI, SEICA, 还是Acculogic, 您都可以在VayoPro-Test Expert找到输出接口,快速生成测试程序。

快速AXI/AOI检查设备编程

Test Expert可以生成各种X-Ray及AOI自动测试设备程序,如Agilent 5DX/SJ50, ViTrox V810 &V510, Omron, Vi Technology, Orbotech, Viscom, TRI, Landrex, …

功能列表及商业价值

望友团队专注于Test Expert软件的各项功能提升及技术革新,期望可以为望友客户带来物超所值的投资回报。

客户评语

产品介绍、视频及输出数据/报告

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